Zum WerkDer Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.Vorteile auf einen Blick
Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker
gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard
Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur NeuauflageDie Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).ZielgruppeFür Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Weiterführende Informationen
Serie / Reihe: Beck'sche Kurz-Kommentare
Personen: Beckedorf, Ingo Ehlers, Jochen Benkard Bacchin, Adam Fritsche, Grabinski
Standort: BSP Jura
PS 3800 B468 (4)
Europäisches Patentübereinkommen / Ingo Beckedorf ; Jochen Ehlers ; Benkard ; Adam Bacchin ; Grabinski Fritsche. - 4. Auflage. - München : C.H. Beck, 2023. - XXVII, 2140 Seiten. - (Beck'sche Kurz-Kommentare; Band 4a). - Titel auf dem Buchrücken: EPÜ
ISBN 978-3-406-76195-9 Festeinband : EUR 289.00
Europarecht; Recht der Europäischen Gemeinschaften bzw. der Europäischen Union und der sonstigen europäischen Organisationen; Europäische Rechtsvereinheitlichung - Buch