Schwachstellen von IoT- und Smart-Home-Geräten aufdecken Hardware, Firmware und Apps analysieren und praktische Tests durchführen Zahlreiche Praxisbeispiele wie Analyse und Hacking elektronischer Türschlösser, smarter LED-Lampen u.v.m. Smarte Geräte sind allgegenwärtig und sie sind leicht zu hacken - umso mehr sind Reverse Engineers und Penetration Tester gefragt, um Schwachstellen aufzudecken und so Hacking-Angriffen und Manipulation vorzubeugen. In diesem Buch lernen Sie alle Grundlagen des Penetration Testings für IoT-Geräte. Die Autoren zeigen Schritt für Schritt, wie ein Penetrationstest durchgeführt wird: von der Einrichtung des Testlabors über die OSINT-Analyse eines Produkts bis hin zum Prüfen von Hard- und Software auf Sicherheitslücken - u.a. anhand des OWASP-Standards. Sie erfahren darüber hinaus, wie Sie die Firmware eines IoT-Geräts extrahieren, entpacken und dynamisch oder statisch analysieren. Auch die Analyse von Apps, Webapplikationen und Cloudfunktionen wird behandelt. Außerdem finden Sie eine Übersicht der wichtigsten IoT-Protokolle und ihrer Schwachstellen. Es werden nur grundlegende IT-Security-Kenntnisse (insbesondere in den Bereichen Netzwerk- und Applikationssicherheit) und ein sicherer Umgang mit Linux vorausgesetzt. Die notwendigen Elektronik- und Hardwaredesign-Grundlagen geben Ihnen die Autoren mit an die Hand. Aus dem Inhalt: Testumgebung einrichten Vorbereitende OSINT-Analyse Elektronik-Grundlagen Einführung in das Hardware-Design von IoT-Geräten: 8-/32-Bit-Controller Android Embedded Devices All-in-One SoC Hardware-Analyse und Extraktion von Firmware Dateisysteme von IoT-Geräten Statische und dynamische Firmware-Analyse IoT-Protokolle und ihre Schwachstellen: Bluetooth LE ZigBee MQTT App-Analyse anhand des OWASP-Standards Testen von Backend-Systemen, Webapplikationen und Cloud-Umgebungen
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Weiterführende Informationen
Personen: Bicchi, Sebastian Mangel, Marcel
Bicchi, Sebastian:
Praktische Einführung in Hardware Hacking : Sicherheitsanalyse und Penetration Testing für IoT-Geräte und Embedded Devices : MITP, 2019. - 256 S.
ISBN 9783958458178